XZ-T200专用集成测试系统

    XZ-T200完全支持XZ-T3000的所有测试功能,接口高度密集成,可根据需求定制。
   相对于XZ-T3000,由于接口高度密集成的原因,集成的各个模块的FPGA资源要少于T3000,测试能力有所降低。

关键特性

  • CPU+FPGA 处理架构
  • 核心功能
    • 全场景测试构建能力
    • UTC统一授时
    • 镜像帧监测分析
    • 同步精度监测分析
    • 可编程故障注入
    • 监测分析管理功能
  • 可根据需求定制不同功能组合的高密度设备XZ-T200X

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